測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的目的及要求是什么

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱的測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的目的及要求為以下幾點(diǎn),供參考

一、冷熱沖擊箱試驗(yàn)?zāi)康模捍_定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)的適應(yīng)性及被破壞性www.asliyq.com

二、冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)條件：高溫箱（RT～150℃）低溫箱（RT～-40℃）,測(cè)試溫度保持時(shí)間為1小時(shí)或是直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定.以時(shí)間長者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù),針對(duì)不業(yè)不同廠家所對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣,按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法進(jìn)行測(cè)試

三、恢復(fù)：測(cè)試產(chǎn)品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后,要在正常的試驗(yàn)大氣條件下來進(jìn)行恢復(fù),直到試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定

四、冷熱沖擊試驗(yàn)箱的測(cè)試手機(jī)內(nèi)存卡的要求：www.asliyq.com

  a.采用高溫箱和低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊測(cè)試,以提供試驗(yàn)樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度

 c.低溫區(qū)的要求,須符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》的3章各條所規(guī)定的測(cè)試要求

 b.高溫區(qū)的要求,須符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》的3章各條所規(guī)定的測(cè)試要求

 d.冷熱沖擊試驗(yàn)箱可提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分,分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的3章各條所規(guī)定的測(cè)試要求

 e.試驗(yàn)箱的容積須保證在試驗(yàn)樣品放入候補(bǔ)超過試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱（室）溫度達(dá)到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)

五、冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):www.asliyq.com

低溫區(qū)與高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間≤15s

溫度恢復(fù)時(shí)間≤5min

六、冷熱沖擊試驗(yàn)箱參照標(biāo)準(zhǔn)：www.asliyq.com

GB/T2423.1.2、GJB150.4、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3

以上是關(guān)于環(huán)境試驗(yàn)箱的相關(guān)信息，如需了解更多關(guān)于各種環(huán)境試驗(yàn)箱的保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息，請(qǐng)！