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更新日期:2024-09-23
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簡要描述:艾思荔光通訊溫度沖擊箱分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物*靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。采用觸控式液晶(LCD)顯示人機介面專用控制器,先進的計測裝置,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線
艾思荔光通訊溫度沖擊箱分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物*靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。采用觸控式液晶(LCD)顯示人機介面專用控制器,先進的計測裝置,操作簡單,學(xué)習(xí)容易,穩(wěn)定可靠,中,英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,沖擊時間999小時59大分鐘,循環(huán)周期1~999次可設(shè)定,可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn),大程度上實現(xiàn)自動化,減輕操作人員工作量,可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。
溫度沖擊箱結(jié)構(gòu)特點:
1.產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進、選材考究。
2.箱體左側(cè)具有50mm之測試孔1個,可供外加電源負載配線測試部件。
3.可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能,具備高低溫試驗機的功能。具備全自動,高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。
4.特的空氣流通循環(huán)設(shè)計,使室內(nèi)溫度均勻,避免任何死角;完備的安全保護裝置,避免了任何可能發(fā)生安全隱患,保證設(shè)備的長期可靠性
5.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(手動)除霜.
6.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制,風(fēng)門機構(gòu)切換時間為10秒內(nèi)完成,冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。
7.周全的安全保護裝置,發(fā)生異常狀況時,熒幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置。
8.冷凍系統(tǒng)采用二元高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計,采用進口壓縮機,并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保(HFC)制冷劑R507,R23.
9.安全保護功能:電源過載保護、漏電保護、控制回路過載、短路保護、壓縮機保護、接地保護、超溫保護、報警聲訊提示等。
10.箱體內(nèi)外部材質(zhì)采用不銹鋼板(SUS#304)
11.不需要使用液態(tài)氣體(LN2LCO2)輔助降溫,待測物*靜止測試方式是當前電子部品測試用,研究用以及半導(dǎo)體生產(chǎn)線大量篩選用,可大量節(jié)省耗材測試費用。操作快捷、高信賴,是本公司經(jīng)多年潛心傾力研究,開發(fā)高性能試驗機,提供您長期可靠的試驗工具。
溫度沖擊箱性能特點:
1.氣動式閥門方便開啟,保證氣密及斷熱保護;
2.試驗槽*靜止,可由測試孔外加負載配線;
3.蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害;(注:液態(tài)氣體所產(chǎn)生的廢氣,吸入肺部致使肺部氧氣量減少,而產(chǎn)生工作倦怠,注意力不集中等)
4.采用觸控式彩色液晶顯示人機接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易;
5.溫度制御精度高,全部采用PID自動演算制御;
6.可選擇始動位置,高溫或低溫開始循環(huán);
7.具有預(yù)約起動功能;
8.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動除霜;
9.運動狀態(tài)顯示;
10.有異?;蛘吖收巷@示及排除方法說明;
11.符合標準:GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等
光通訊溫度沖擊箱用途:
又稱為高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的理想測試工具。