蒸汽老化試驗機的詳細信息:  

蒸汽老化試驗機技術(shù)參數(shù)：  

★型號:SVT-340  

★測試區(qū)尺寸（W×H×Dcm）：50×40×17  

★外型尺寸（W×H×Dcm）：60×50×42  

★控制精度：±0.5℃  

★升溫時間：大約45分鐘  

★蒸氣溫度：upto97℃  

★計時功能：0～999H59M可調(diào)  

蒸汽老化試驗機設(shè)備特點：  

★整體不銹鋼SUS#304HL制成，操作設(shè)定簡易。  

★微電腦數(shù)字LED控制，具時間規(guī)劃功能，大可設(shè)定9,990Mins.。  

★多重超溫保護／缺水切電熱等安全裝置。  

★零件、連接器被動組件，半導體接腳高溫高濕氧化試驗。  

★金屬接腳沾錫性試驗加速老化試驗。  

★采用觸摸式PID+SSR溫度控制器，同時具有時間計時功能，大可設(shè)定9990分式無限。  

★全自動安全超溫保護及氣用水缺水空焚保護裝置。  

★水位控制：附水箱自動補水。  

★純水RO逆滲透自動供水裝置.  

蒸汽老化試驗機用途： 

半導體的PCT測試:主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關(guān)問題。  

HAST非飽和高度加速老化試驗機的詳細信息:  

一.選型示意：  

◇R-HAST–350-2  

◇R：瑞凱標志  

◇PCT：高壓加速  

◇350:內(nèi)容積￠×D）  

◇2:壓力范圍  

◇2:+0.5—2kg/cm2  

◇3:+0.5—3kg/cm2  

二.蒸汽老化試驗機產(chǎn)品規(guī)格（mm）：  

◇型號:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000  

◇型號:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100  

◇型號:HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150  

◇型號:HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250  

三.蒸汽老化試驗機產(chǎn)品簡單介紹：  

◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗機,PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗機,加速老化  

◇壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，  

◇縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。  

◆蒸汽老化試驗機技術(shù)優(yōu)勢：  

◇采用全自動補充水位之功能,試驗*中斷.  

◇試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠真正掌握實際的試驗過程。  

◇干燥設(shè)計，試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)（待測品）的干燥，確保穩(wěn)定性。  

◇精準的壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求。  

艾思荔的主營產(chǎn)品有：PCT高壓加速老化試驗機，HAST高度加速壽命試驗機，可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備以及制程設(shè)備，有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。   

針對JESD22-A102的PCT試驗說明：  

用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。  

樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進入封裝體內(nèi)，出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計的更新。  

應(yīng)該注意，在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時，可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。  

外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng)，會造成離子遷移不正常生長，而導致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。 

    濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護層針孔、裂傷、被覆不良處..等，進入半導體原件里面，造成腐蝕以及漏電流..等問題，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。  

JEDEGJESD22—A、102—B、PCT濕度試驗：  

說明：PCT試驗機執(zhí)行JEDECJESD22-A102-B飽和濕度（121℃/R.H.）的實際試驗紀錄曲線，PCT試驗機是目前業(yè)界機臺標準內(nèi)建數(shù)字電子紀錄器的設(shè)備，可完整紀錄整個試驗過程的溫度、濕度、壓力，尤其是壓力的部分是真正讀取壓力傳感器的讀值來顯示，而不是透過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠真正掌握實際的試驗過程。  

PCB的PCT試驗案例：說明：PCB板材經(jīng)PCT試驗（121℃/R.H./168h）之后，因PCB的絕緣綠漆質(zhì)量不良而發(fā)生濕氣滲透到銅箔線路表面，而讓銅箔線路產(chǎn)生發(fā)黑現(xiàn)象。

HAST非飽和高度加速老化試驗機滿足標準：  

1.IEC60068-2-66  

2.JESD22-A102-B  

3.EIAJED4701  

4.EIA/JESD22  

5.GB/T2423.40-1997  

以上是恒溫恒濕實驗室的相關(guān)信息，如需了解更多恒溫恒濕實驗室維護、保養(yǎng)等信息，請艾思荔。

：   李

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